PVM ®使科学家和工程师们能够在工艺过程的实际浓度下、以其在工艺过程中自然存在的状态下观看并存储晶粒、颗粒、与液滴的显微镜质量的实时图像。
PVM® V819的设计是针对实验室规模的研发,帮助加速对颗粒与液滴体系的研究和理解 - 无需采样和稀释。
PVM® V819的主要特点包括:
采用 PVM(颗粒录影和测量)技术的 ParticleView V19 是一种基于探头的录影显微镜,可以将颗粒和颗粒机制在过程中的状况以直观的形式呈现出来。 在各种工艺条件下连续捕捉高分辨率图像,无需采样或离线分析。 对颗粒粒径和浓度变化敏感的过程趋势,将自动与相关度较高的图像相结合,为科学家提供了一种可确保通过每项实验来获取全面了解的直观、可靠的方法。
Model | V819 |
Probe Tip Material | Alloy-22 Wetted |
Probe Window | Sapphire |
Probe Diameter | 19mm |
Probe Length | 400 mm |
Field of View | 1075mm x 825mm |
Resolution | 2 μm |
Temperature Range | -80°C to 120°C |
Pressure | Vacuum to 10 bar |
Conduit Length | 5m |
Certification | CE, Class 1 M Laser |
Controller and Software | Laptop or Desktop Connections |
PVM® V819 Probe Specifications
PVM® V819 Field Unit Specifications
METTLER TOLEDO is the world leader in Process Analytical Technology (PAT) to track real-time changes to particle dimension and shape. After purchasing Lasentec® in 2001, METTLER TOLEDO has over 20 years experience with inline particle characterization.