密度测定在许多领域内被用来描述产品或材料的特定性能。密度测定——真正高效 
采用梅特勒-托利多密度选件来测定固体、液体、多孔和粘性物质的密度,均适用于分析天平和精密天平。无论您是采用浮力技术、排水原理还是比重瓶法,密度选件都可使密度测定变得方便、精确。
仅需几个简单的步骤,即可将该选件轻松安装于您的天平上,坚固的设计和稳定的结构确保其经久耐用、易于操作。
集成密度固件解决方案 
超越系列XP/ XS天平中内置密度测定应用程序,可为五种不同方法提供完整的工作流程。该应用程序可指导您逐步操作、收集结果、计算密度,并对序列测定结果进行统计评价。
客户化的综合报告
您可以通过超越系列XP/ XS固件计算和记录密度值,密度结果可从天平传输至电脑或打印出来。输出报告可根据你的要求来设置:进行标题行设置,定义单独值的报告选项和序列测定结果的统计报告。